symbol_triangleンタミ
可視化システム

Contamination Visualization System

コンタミ可視化システム

01 Feature 製品特徴

世界初! サブミクロンの
微粒子を
「目視」で手軽に
検証できる光源システム

レーザー光を照射せずに、目視によるサブミクロンの異物観察を実現しました。出射部と撮影部を小型化し装置内へ直接アプローチ可能になり、局所クリーン化が進むクリーンルーム設備への対応も万全。最新の画像処理技術により視認できない粒子像も強力に補足できるようになり、最新の異物対策システムとして完成しました。

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Point

01

レーザー光を照射せずに
サブミクロンを目視観察する
光源を開発

従来、サブミクロンの可視化にはクラス4のレーザーシート光源を用いられていましたが、安全上の問題から製造現場で使用することができませんでした。
本製品はレーザー光を観測空間へ照射しておらず、目視観察が可能なので、生産現場で手軽にスマホでパーティクルの可視化撮影を行えます。

Feature Image

Point

02

小型化したカメラと
光源ヘッドで製造装置に
直接アプローチ

非レーザーの照明ながら光路長を揃え指向性を高めた専用設計により、サブミクロン可視化を光源単体で実現。
さらに、業界最小クラスの照射ヘッドとカメラ筐体を実現し、局所クリーン化が進む製造ライン内の様々な場所に配置ができ、製造工程全体の発塵管理に利用可能です。

Feature Image

Point

03

最新の画像処理により
視認できない粒子像も
強力に補足

最新のリアルタイム画像処理を5モード搭載しており、様々な計測条件に対応します。
また、視認性が悪いサブミクロンの微粒子を広角撮影する時にもマスク処理で補間できるオリジナル機能を多数搭載しているので、使いやすい操作性とシンプル構造で、高機能と直感操作を両立しています。

Feature Image

02 Merit メリット

生産現場の課題を解決

01品質向上-02生産性向上-03コスト削減

ただ不良率を減少させるだけでなく、原因不明で責任の所在が曖昧だった異物問題を解決することが可視化の目的です。工場設備や空調の問題、生産設備内部の発塵、特定の治具や搬送装置、作業工程や作業員由来など原因が明確になれば、対応する部門や部署、サプライヤーなどどこに相談して対処するべきか、具体化し改善できれば、得られる収益性の改善の効果は計り知れません。そのような問題解決を可能にするハイブリッドなシステムをご提案します。

サブミクロンから粗大粒子まで
全レンジで微粒子可視化

可視化は専用の光源とカメラの組み合わせで行い、可視化できる最小粒径以上のものはどの大きさでも可視化できます。

生産現場での問題解決へのアプローチ

発塵⇒浮遊⇒堆積の一通りのプロセスを映像化するため、どのように異物が発生しているか原因から検証でき、特に複合的な要因の場合や改善策の最適化に効果が得られます。

製造装置内部の異物可視化と
発塵源特定のメリット

発塵源を特定できれば発塵プロセスを可視化することで改善方法を検討できます。発塵を抑える、吸引するなどの対策が有効かを確認でき、異物対策の最短距離を進めます。

03 Line up ラインナップ

symbol_triangle サブミクロン
可視化インサート
システム

CVS-Submicron (≦0.1µ)

サブミクロン可視化インサートシステム

世界初 サブミクロンの微粒子を
目視で手軽に検証可能

レーザー光を照射せずにサブミクロンを可視化する最新モデル。独自の光学設計により光源単体で目視によるサブミクロンの異物観察を実現。出射部と撮影部を最小化し、装置内へ直接アプローチを可能にし局所クリーン化が進んだCR環境への対応も万全。工場ラインの様々な工程に対応できる汎用性の高さが、様々な異物問題を改善へ導きます。

Point 01
発塵をスマホやデジカメで手軽に録画保存
Point 02
レーザー光照射ではないので目視観察可能
Point 03
光源とカメラヘッドで装置内部へ取付可能
Point 04
迷光を抑え指向性を極めた驚きの可視化
Point 05
最新画像処理で世界最高の可視化を実現
Point 06
プレゼンに最適な比較動画編集等の多数機能
サブミクロン可視化インサートシステムのメリット

Merit

光学系を切り替えることにより、様々な設置環境や対象粒径に対応できます。

symbol_triangle パーティクル
可視化レーザー
システム

CVS-Laser (≦0.1µ)

パーティクル可視化レーザーシステム

クラス4のレーザーにより極小異物の可視化を実現しました。最新の画像処理と組み合わせて光学式パーティクルカウンターの下限値の100ナノレベルを可視化。直進性が極めて高く、迷光の発生が最大まで抑制され、さらに光源の波長帯が狭いのでフィルター処理により外乱光を最大限カットできます。

Point 01
0.1μまで可視化できる高性能システム
Point 02
背景が白色でも可視化できる波長特性
Point 03
高寿命を誇る半導体レーザーモデル
Point 04
光学系はお客様で自由にカスタム可能
Point 05
PIV気流可視化にも最適な光源を採用

symbol_triangle 粗大粒子
可視化システム

CVS-LED

lineup-img-01

拡散しやすいLED光を集光したまま直進性を確保。強力な画像処理を組み合わせることで、緑色光ながら赤色光源タイプと同様に白壁の背景の影響を抑えて異物を可視化できます。繊維ゴミだけでなく、樹脂系や金属異物の可視化も容易に。他の光源の種類と比べて価格を抑えての導入が可能です。光源の増設により可視化範囲も広げられます。

Point 01
粗大粒子の可視化に最適なボリューム光源
Point 02
導入コストを抑えて手軽に検証可能
Point 03
堆積粒子の可視化にも対応した光源設計
Point 04
光源の増設で可視化領域の倍増が可能
Point 05
視認性に優れた緑色光で白色背景も撮影可能

04 Spec 製品仕様

04_spec

Making the Invisible
World Visible

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